X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5是鍍層測厚和材料分析的通用儀器，能提供目前zui高的性價比。他們是既能滿足*功能性，又能滿足zui高的檢測精度的理想工具。擁有強大的無標樣分析軟件，可通過無標樣分析方法直接檢測單層、雙層膜層厚度，無需購備過多標樣，節省費用。

X射線熒光鍍層無損測厚儀/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5操作軟件介紹：

X-Master是一款具備龐大應用功能并被成功使用的軟件，更多新的應用正不斷地加入進來。

可選軟件模塊

µ-Master 用于鍍層厚度測量                   

Element-Master 用于材料分析

Report-Master 用于微軟報告文件

Data-Master 用于數據庫管理

%-Master 用于材料分析（珠寶）

Liquid-Master 用于電鍍液分析

/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5規格介紹：

1、鍍層和成份分析

鍍層：zui多同時測定5層(4層鍍層+基體材料) •成份：zui多同時測定20種元素

2、X射線激發

50kV、1.2mA (60W)高壓發生器

微聚焦W靶X射線管

3、探測器

封氣正比例計數器

25mm2 半導體(Si-PIN) 探測器，Peltier電制冷

4、數字脈沖處理器

4096 通道、數字式多道分析器

含死時間校正和脈沖堆積清除的自動數字信號處理器

5、準直器

單準直器任選：0.2mm x 0.5 mm, 0.3 mm, 0.4 mm, 0.5 mm Ø

多準直器程控交換：0.1 x 0.7mm, 0.2 x 0.7mm, 0.3mm,0.5mm Ø (可選件)

/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5優勢

操作簡單

無損檢測只需幾秒鐘

為質量保證和過程控制提供單層或多層分析

用于優化電鍍液控制的金屬離子含量分析

以X射線熒光技術進行無損分析

市場上zui高性價比

自動化批量檢測：XYZ

應用行業：電子，珠寶，金屬加工

/x射線測厚儀/x射線光譜儀/x-ray鍍層厚度測量儀MAXXI 5/COMPACT 5樣品臺規格：

X-Y 手動樣品臺：600 x 600 mm; zui大承重25 kg;zui大樣品高度175 mm 或者350 mm可調

X-Y 程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300 mm x 250 mm；zui大承重5 公斤；程控距離X=300,mm Y=250 mm（可選件)

程控Z 軸移動距離：180mm；可使用鼠標或者手柄控制

其他規格：

1、計算機/顯示屏/操作系統

In Pentium G2030, 2G RAM, 500G硬盤(配置相當或者更高)

19" TFT 平板彩色顯示器

MicrosoftTM Windows7 32 bit

2、成像系統

彩色視頻系統

20 倍放大倍數

被測樣品圖像實時顯示功能

電腦顯示屏具有畫中畫功能

3、工作環境要求

50F (10C) - 95F (35C)

zui高98%相當濕度(無冷凝水)

推薦在空調環境中使用

4、zui大樣品尺寸(長x 寬x 高)

X-Y 手動樣品臺： 600 x 500 x 350 mm

X-Y 程控樣品臺： 600 x 500 x 350 mm

5、儀器外形尺寸(長x 寬x 高）

700 x 770 x 700 mm

重量： 90 kg

測定元素范圍Ti22 - U92    

電源要求 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz